Прогнозування надійності світловипромінюючих діодів за шумовими характеристиками

Abstract

В даній статті розглядаються результати вимірювань низькочастотних шумов світловипромінюючи діодів. Установлено, що світловипромінюючі діоди з підвищеним рівнем шумов або з аномальною кінетикою зростання їх в перші години випробувань потенціно ненадійні, тобто виявляють у подальшому швидку абокатострофічну деградацію (відмову). Показана перспетивність шумових вимірювань для відбору світловипромінюючих діодів за показниками надійності.